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5209型(单相)和5210型(双相)锁相放大器

5209型(单相)和5210型(双相)锁相放大器已经成为了业内人士评价判断锁放性能好坏的标准。它们作为学术、项目研究的参照工具在多种论文及出版物中被提及,其广泛的应用于包括光学、电化学、电子、机械及基础物... ...

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燕京7270型DSP锁相放大器

7270型的锁放使用了一种新标准。早在上世纪90年代初,自代的DSP锁相放大器开始,我们在数字锁放的发展上就已取得了的地步,并确保我们的两款数字锁放7265及7280拥有的性能参数。况且,与老式的设计相... ...

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燕京7225型DSP锁相放大器

7225型锁放为那些需要DSP解调检波技术,而不需要像7265或7280锁放那样更大的频率操作范围及其它一些特性的科研人员,提供了一种高性价比的解决方案。 7225型DSP锁相放大器与其它类型的双相锁相放大器测量设备相... ...

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燕京7124型精密锁相放大器

7124型精密锁相放大器它使用一种独特的模拟光纤使得实验中的远程控制单元(RCU)与主设备控制台相互间连接起来。在正常的操作中,在RCU内不会产生数字时钟信号,因此它也不会产生开关噪声。这种结构为那些使用... ...

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SE200BM型薄膜厚度测量系统

SE200BM型薄膜厚度测量系统易于安装,基于视窗结构的软件,很容易操作,先进的光学设计,以确保能发挥出的系统性能,能够自动的以0.01度的分辨率改变入射角度,高功率的DUV-VIS光源,能够应用在很宽的波段内... ...

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燕京5106型双相模拟锁相放大器PCB集成电路板

5105型锁放单元使用的是5106型锁相放大器PCB集成电路。5106型锁放单元有着与5105型锁放相同的技术参数指标。该型号产品尤其适合于OEM或多功能仪器使用,但用户需要为其提供电源。 ...

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5105型双相模拟锁相放大器

5105型双相锁相放大器单元为那些只利用锁放来锁定信号的人们提供了便利。该款设备不是通过仪器面板来操作,而是通过RS232接口与计算机相连,直接由ASCII码字串命令来操作该设备。与传统的PC卡仪器相比,这种方... ...

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燕京7280型宽带宽DSP锁相放大器

7280型DSP锁相放大器是一款拥有优异性能的多功能测量仪器。其拥有的直接数字解调功能使得它能测量频率2.0MHz的信号,输出滤波时间常数1 μs,7.5MHz的主ADC采样率能够其快速的变换、跟踪信号。但... ...

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燕京7265型锁相放大器

Signal Recovery 7265型锁相放大器是目前世界上应用多、广泛的微弱信号测量仪器。它采用的的数字信号处理技术,扩展的锁相放大器的诸多功能,使科研工作者简单快捷的获取所要测量的数据,深受使用者的... ...

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SE200BA型薄膜厚度测量系统

SE200BA型薄膜厚度测量系统易于安装,基于视窗结构的软件,很容易操作,的光学设计,以能发挥出的系统性能,能够自动的以0.01度的分辨率改变入射角度,高功率的DUV-VIS光源,能够应用在很宽的波段内,基... ...

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显微分光光度计及薄膜厚度测量系统

显微分光光度计(Micro-Photometry、Micro Spectrophotometry)是用来描述薄膜、涂层厚度过1微米的物件的光学性能的。显微分光光度计同样也被称作为:microreflectometer、micro-reflectometer、microspectromet... ...

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MSP100RTM显微分光光度计及薄膜厚度测量系统

基于视窗结构的软件,很容易操作,的深紫外光学及坚固耐用的震设计,以系统能发挥出的性能及长的正常运行时间,基于阵列设计的探测器系统,以快速测量,格,便携式及灵巧的操作台面设计... ...

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薄膜厚度测量系统SE200BA-MSP-M300

薄膜厚度测量系统SE200BA-MSP-M300 易于安装,基于视窗结构的软件,很容易操作,的光学设计,以能发挥出的系统性能,能够自动的以0.01度的分辨率改变入射角度,高功率的DUV-VIS光源,能够应用在很宽... ...

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薄膜厚度测量系统

薄膜厚度测量系统易于安装,基于视窗结构的软件,很容易操作,的光学设计,以能发挥出的系统性能,能够自动的以0.01度的分辨率改变入射角度,高功率的DUV-VIS光源,能够应用在很宽的波段内,基于阵... ...

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SE200BM-M300薄膜厚度测量系统

SE200BM-M300薄膜厚度测量系统易于安装,基于视窗结构的软件,很容易操作,的光学设计,以能发挥出的系统性能,能够自动的以0.01度的分辨率改变入射角度,高功率的DUV-VIS光源,能够应用在很宽的波... ...

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FRT Microspy型表面形貌仪

该MicroSpy型产品是一款用于物体表面2D或3D的非接触式测量的,且物美价廉的单传感器光学表面形貌仪。该设备不可用于研发部门,同样也可以用于技术、汽车、半导体、PV、微机电、光学等工业生产控制中。 ...

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表面轮廓仪OV-SPI500

该款表面轮廓仪用于测量物体材料的光学性能、薄膜厚度及表面形貌,尤其是在半导体及平板显示器行业中,它能对其微细模式化进行调整。 ...

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